《材料分析测试技术》考试大纲

适用专业名称：材料科学与工程

科目代码及名称

考试大纲 

4材料分析测试技术

一、 考试目的与要求

测试考生对X射线衍射分析技术、扫描电子显微镜、电子探针、透射电镜等分析技术的掌握程度，使学生掌握材料研究的基本方法，学会进行材料微观组织结构分析和物理性能分析的常用仪器设备的原理及使用方法，使学生具备分析研究材料的组织结构所必须的基础理论、基础知识与基本技能。

二、 试卷结构（满分100分）

内容比例： 

X射线衍射分析                 约35分

透射电镜分析                  约20分

扫描电镜分析                  约20分

电子探针分析                  约25分

     题型比例：

                    客观题   约30分                             

         1．填空题（选择或判断）      约15分                        

         2．名词解释                  约15分                         

主观题   约70分  

1. 简答题                  约20分

2. 证明题                  约20分

3. 综合分析题              约30分

三、考试内容与要求

   （一）X射线衍射分析

 考试内容     

X射线物理基础、X射线衍射方向、X射线衍射强度、多晶体分析方法、 X射线物相分析及点阵参数精确测定

考试要求

 1. 掌握X射线的本质、X射线谱的分类及特征谱的产生机理；

2. 掌握X射线与物质的相互作用；

3. 掌握布拉格方程的推导及应用；

4.理解结构因子的物理意义，掌握三种常见点阵消光规律，掌握X射线衍射强度公式；

5、理解各种衍射分析方法，掌握X射线衍射仪的参数设置；

6、掌握物相定性分析的原理、方法与步骤；

7、掌握PDF卡片的组成及索引方法；

8、掌握物相定量分析的原理及方法；

9、掌握立方晶系物质点阵常数的精确测定。

（二）电子光学基础及透射电子分析 

考试内容

电子波与电磁透镜、电磁透镜的像差与分辨本领、电磁透镜的景深和焦长，电子衍射原理、电子显微镜中的电子衍射、单晶体电子衍射花样标定以及复杂电子衍射花样。透射电子显微镜的结构与成像原理、主要部件的结构与工作原理；透射电子显微镜分辨本领和放大倍数的测定，薄膜样品的制备；衍衬成像原理；消光距离

考试要求

1. 掌握电子透镜及其景深与焦长、电磁透镜的像差与分辨本领；

2.理解透射电镜的结构，了解透射电镜的应用样品的制备方法并能制备电镜样品；

3.掌握电子衍射原理和衍称成像原理；

4.能够分析电子衍射花样。

   （三）扫描电子显微镜

考试内容

电子束与固体样品作用、扫描电子显微镜的构造和工作原理、扫描电子显微镜的主要性能、表面形貌衬度原理及其应用、原子序数衬度原理及其应用

考试要求

1. 理解扫描电子显微镜的构造和工作原理

2. 了解电子束与固体样品作用时产生的信号

3. 掌握扫描电子显微镜的主要性能、表面形貌衬度原理及其应用

4. 应用SEM图像分析物质

（四）电子探针显微分析

考试内容

    电子探针仪的结构与工作原理；电子探针仪的分析方法及其应用

考试要求

1. 理解电子探针分析构造

2. 了解电子探针分析应用

3. 掌握电子探针分析方法及微区成分分析技术

4. 应用微区分析技术分析物质成分和结构

参考书目：  

《材料分析方法》（第三版），周玉主编，哈尔滨工业大学出版社，2011年